顕微式分光膜厚計レンタルを開始します

従来の反射分光式膜厚測定にオプションとして顕微式分光膜厚計(顕微鏡式分光膜厚計)のレンタルを開始いたします。顕微鏡を用いる事で、従来では測定出来なかった凹凸のある電子部品や曲面レンズに対して測定することが可能になりました。

装置スペック

名称 顕微鏡式分光膜厚計
装置構成 顕微鏡、ユニット本体、ファイバー(1m)、PC
顕微鏡 オリンパス社製金属顕微鏡
測定波長範囲 380~700nm
膜厚測定範囲 50nm~1.5μm(C/F)
1.5μm~50μm(FFT)
計測再現性 0.2%~1%(膜質依存による)
測定スポット径 Φ6μm~Φ120μm
光源 12V-100W ハロゲン
測定理論 カーブフィッティング法 / FFT法
外形寸法 (mm) 顕微鏡:W317.5×D602×H480
本体:W230×D230×H135
概算重量 25kg ※PCを除く
ユーティリティ AC100V 50/60Hz
消耗品 ハロゲンランプ